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JIS K0120-1986 荧光测定分析方法的通用规则

作者:标准资料网 时间:2024-05-13 20:24:39  浏览:8925   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Generalrulesforfluorometricanalysis
【原文标准名称】:荧光测定分析方法的通用规则
【标准号】:JISK0120-1986
【标准状态】:作废
【国别】:日本
【发布日期】:1986-03-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonChemicalAnalysis
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:仪器分析法;荧光测定法
【英文主题词】:fluorimetry;instrumentalmethodsofanalysis
【摘要】:
【中国标准分类号】:A43
【国际标准分类号】:71_040_50
【页数】:18P;A4
【正文语种】:日语


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【英文标准名称】:Connectorsforelectronicequipment-Testsandmeasurements-Part25-4:Test25d:Propagationdelay(IEC60512-25-4:2001);GermanversionEN60512-25-4:2001
【原文标准名称】:电子设备用连接器.试验和测量.第25-4部分:试验25d:传播延迟
【标准号】:EN60512-25-4-2001
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2002-08
【实施或试行日期】:2002-08-01
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电气工程;定义;元部件;绝缘测试;电阻率;接触电阻;运转时间;性能试验;电压应力;电缆组件;额定电压;上升时间;阻抗;机电装置;电子仪器;电插头;信号线路;开关;电阻器;机电学;电气元件;电子设备及元件;绝缘;测量技术;电子设备;机电的;试验报告;座孔;电子工程;试验
【英文主题词】:Cableassembly;Components;Contactresistance;Definition;Definitions;Electricplugs;Electricalcomponents;Electricalengineering;Electromechanical;Electromechanicaldevices;Electromechanics;Electronicengineering;Electronicequipment;Electronicequipmentandcomponents;Electronicinstruments;Impedance;Insulationtest;Insulations;Investigations;Measuringtechniques;Performancetests;Resistivity;Resistors;Risetime;Runningtime;Signallines;Sockets;Switches;Testing;Voltagerating;Voltagestress
【摘要】:
【中国标准分类号】:L23
【国际标准分类号】:31_220_10
【页数】:14P.;A4
【正文语种】:英语


基本信息
标准名称:带电设备红外诊断技术应用导则
英文名称:Technical guide for infrared diagnosis of alive equipment
中标分类: 电子元器件与信息技术 >> 光电子器件 >> 红外器件
替代情况:被DL/T 664-2008代替
发布部门:中华人民共和国国家经济贸易委员会
发布日期:1999-08-02
实施日期:1999-10-01
首发日期:1900-01-01
作废日期:2008-11-01
提出单位:中国电力企业联合会标准化部
归口单位:中国电力企业联合会标准化部
起草单位:邯郸工业局、华北电力科学研究所
起草人:程玉兰、陈洪岗、陈永义等
出版社:中国电力出版社
出版日期:1999-10-01
页数:33页
适用范围

本标准规定了红外诊断对象、诊断方法和设备缺陷的判断依据,对红外检测和诊断技术管理工作提出了要求。本标准适用于电力行业中具有电流、电压致热效应式其他致热效应的设备。电力用户对带电设备进行红外检测和诊断时,可参照本标准执行。

前言

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引用标准

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所属分类: 电子元器件与信息技术 光电子器件 红外器件